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磁粉探傷標準試塊是什么？
作者：m.chipwaresolutions.com 發(fā)表時間：2016/6/21 17:47:15
一、簡介：
磁粉探傷標準試塊是用于磁粉探傷中磁粉檢測缺陷顯示的人工缺陷裂痕試塊，用于在工件表面模擬缺陷，判斷磁粉探傷機、磁粉探傷儀參數(shù)設(shè)定值的準確程度。
二、定義：
磁粉探傷標準試塊是按一定規(guī)格，在距試塊表面不同深度處分布不同孔徑/寬度的人工孔槽的長方形/圓柱形試件。
三、性能：
磁粉探傷標準試塊主要用于檢查探傷裝置、磁粉/磁懸液的綜合使用性能及操作人員的操作手法正確性，但是不可以用來查看被測工件表面各點磁場的分布規(guī)律，不可以用來檢測工件的磁化電流值。
四、分類：
按可檢測缺陷的電流分為直流標準環(huán)形試塊和交流標準環(huán)形試塊。
五、成分：
直流標準環(huán)形試塊：主要是由AISI01克托斯鉻鎢錳工具鋼制成；
交流標準環(huán)形試塊：主要是由含碳量不大于0.15%的軟鋼制成；
六、檢測方法：
直流標準環(huán)形試塊：用銅棒作中心導(dǎo)體，采用穿棒法磁化，并通以直流電，采用連續(xù)法檢驗，并觀察試塊外緣是否能夠清晰的顯示孔數(shù)。
交流標準環(huán)形試塊：直接將試塊夾在磁粉探傷設(shè)備的兩個電極上，并通電磁化，觀察試塊外緣是否能夠清晰的顯示孔數(shù)。
七、優(yōu)勢：
彌補自然缺陷試件缺陷位置、大小、形狀等無法人為控制的因素無法準確的描述、傳播的缺陷，使缺陷裂痕描述規(guī)格化。
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